ヒューレットパッカード社製
190〜1100nmの吸収スペクトルを0.1秒で測定することができます。また、恒温セルホルダーで10〜100℃の温度調節が可能です。

日本分光製J-820
真空紫外から近赤外（165〜1100 nm）までの測定が可能です。

日立製作所製F2500
蛍光スペクトル、蛍光励起スペクトル、燐光スペクトル、燐光寿命を測定することができます。

島津製作所製

GCMS-QP5050　DI（直接導入）オプション付属

島津製作所製
分取ＧＰＣのにダイオードアレイ検出器を用いているため、フラクションのスペクトルを確認しながら分取することができます。

日立製
４溶媒低圧グラジェントポンプ、マルチチャンネル検出器、紫外可視検出器

メトラー社製のホットステージ（Mettler FP82HT）を試料台に置いて顕微鏡観察が可能です。観察される静止画または動画は、専用のMOビデオディスクレコーダまたはデジタルビデオレコーダに記録され、接続されたコンピュータで画像処理されます。

この1台の顕微鏡で位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察が行えます。 また、反射光と透過光を組合わせることにより、位相差蛍光観察と 微分干渉蛍光観察も行うことができます。

He-Cdレーザからの325nm光を高速で走査すること、微小領域の光反応を誘起することが可能です。また、レーザ光をコンピュータ制御した変調器で変調して照射することで光反応材料の光画像記録特性を調べることも可能です。

示差走査熱量分析を行います。冷却ユニットを備えているため-150℃までの測定が可能です。